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真空質(zhì)量提取測(cè)試原理及方法(2)

點(diǎn)擊次數(shù):671 更新時(shí)間:2024-09-10

  測(cè)試方法概述:
 
  1、 將測(cè)試包裝放入真空測(cè)試倉(cāng),然后對(duì)測(cè)試倉(cāng)抽真空。測(cè)試系統(tǒng)包含真空儲(chǔ)蓄器、IMFS 和真空測(cè)試倉(cāng)。質(zhì)量提取法的測(cè)試原理見(jiàn)圖 2。當(dāng)測(cè)試系統(tǒng)被抽真空到合適的真空度的時(shí)候,會(huì)將測(cè)試系統(tǒng)與真空泵隔離。從測(cè)試包裝通過(guò)任何漏孔進(jìn)入真空測(cè)試倉(cāng)的質(zhì)量流會(huì)流向真空儲(chǔ)蓄器。IMFS 會(huì)檢測(cè)從真空測(cè)試倉(cāng)流入真空儲(chǔ)蓄器的質(zhì)量流。在給定的壓差下,質(zhì)量流與缺陷的幾何尺寸呈正比。來(lái)自于頂空體積或者液體(如水)泄漏的被檢測(cè)的氣體流會(huì)在暴露在測(cè)試倉(cāng)內(nèi)的真空條件下。因?yàn)闇y(cè)試倉(cāng)內(nèi)的壓強(qiáng)要比水的沸點(diǎn)為 20±5℃時(shí)對(duì)應(yīng)的壓強(qiáng)要低,因此液體會(huì)沸騰而形成而水蒸氣和空氣的混合物。
 
  2 、測(cè)試系統(tǒng)的靈敏度與 IMFS 的全掃描范圍、真空測(cè)試倉(cāng)的設(shè)計(jì)、包裝材料種類(lèi)和測(cè)試系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置有關(guān)。對(duì)測(cè)試系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置影響較大的因素有:需 要的靈敏度、測(cè)試包裝的材料種類(lèi)、測(cè)試包裝的體積(尺寸)、測(cè)試包裝在真空 狀態(tài)下的形變程度等。包裝材料在真空環(huán)境下脫氣而釋放質(zhì)量流進(jìn)入真空測(cè)試倉(cāng)。脫氣對(duì)最終質(zhì)量流率的影響可以通過(guò)如下途徑來(lái)最小化,一是延長(zhǎng)最終質(zhì)量流率 測(cè)試前抽真空的時(shí)間,二是提高真空度。在一些特別的場(chǎng)合(如大體積柔性包裝和一些標(biāo)簽材料),需要對(duì)測(cè)試包裝進(jìn)行前處理以很大程度減少包裝的揮發(fā)物的 量。對(duì)于被測(cè)試包裝樣品在壓力下有可移動(dòng)的部件,如注射器或活塞,設(shè)計(jì)特別 的真空測(cè)試倉(cāng)來(lái)限制部件的移動(dòng)是很重要的。在測(cè)試循環(huán)中,部件向外運(yùn)動(dòng),會(huì) 改變真空測(cè)試倉(cāng)的內(nèi)部體積,使質(zhì)量流流入真空儲(chǔ)蓄罐,從而會(huì)模擬包裝泄漏而 導(dǎo)致假陽(yáng)性。
 
  3、 真空測(cè)試倉(cāng)和測(cè)試參數(shù)的設(shè)置必須要能夠滿(mǎn)足檢測(cè)包裝中的大孔(孔徑≥70-100μm)的要求,這對(duì)干產(chǎn)品包裝內(nèi)部空體積部分被抽為真空時(shí)特別重要。大泄漏檢測(cè)可盡量減少液體進(jìn)入測(cè)試系統(tǒng),因此大泄漏檢測(cè)對(duì)于盛裝液體的包裝很重要。在抽真空階段初期,在小泄漏測(cè)試之前,需要合適的測(cè)試倉(cāng)體設(shè)計(jì)和更多的測(cè)試步驟來(lái)檢測(cè)大泄漏。
 
  真空質(zhì)量提取法
 
  的適用范圍很廣。既適用于常壓、微負(fù)壓和高真空的各類(lèi)容器檢漏,也適用于粉體、液體等填充容器的檢漏。既可以測(cè)硬質(zhì)容器,也可以測(cè)軟包裝容器。真空質(zhì)量提取法無(wú)需每個(gè)規(guī)格定制測(cè)試腔體??墒褂猛膱A填充,滿(mǎn)足不同規(guī)格尺寸的西林瓶。
 
  USP<1207.1>產(chǎn)品生命周期中的包裝完整性檢測(cè)方法和驗(yàn)證也指出,沒(méi)有任何一種包裝泄露測(cè)試或包裝密封質(zhì)量測(cè)試方法可以適用于所有產(chǎn)品包裝系統(tǒng)。后續(xù)將繼續(xù)介紹其他幾種確定性方法測(cè)試原理,敬請(qǐng)期待。

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